在印制板制造工藝中，最典型的是利用AOI自動光學檢測儀系統在印制板上的應用，其中多數應用在多層板的內外層或高密度雙面板表面質量的檢查。
一、AOI自動光學檢測儀用于PCB底片的檢查
AOI自動光學檢測儀系統的設計是根據底片檢查工藝特性，采用透射的模式即將需要檢查的底片放置在玻璃桌臺上，而不采用抽真空臺面，而是通過玻璃桌面的下的光束透過玻璃進行對底片的掃描來檢查底片相應位置上的缺陷。
使用AOI自動光學檢測儀對底片進行表面質量的檢查，為更加清晰的將印制板表面缺陷呈現出來，對該系統的放大裝置作了很大的改進，達到了既是印制板表面的很小的缺陷都能檢查出來。
當在印制板生產過程中使用該AOI自動光學檢測儀系統時，就能將印制板面的5um和5um以下的缺陷檢查出來，并且能夠適當的區別錯誤的真假，就是采用高級的識別系統大大的減少故障缺陷的發生。
另外,容易產生錯誤的是由于光具表面銀粒子無光澤，再通過AOI自動光學檢測儀的反射模式，特別是焦點不是在光具銀乳膠膜上，就很容易出現假的讀出。而表面無光澤的粒子致使真空度下降。這些粒子是甲基丙烯酸樹脂，直徑大約7微米，它能夠使光發出散光。
如果AOI自動光學檢測儀是開始并記錄應該發現的缺陷，唯一的其缺陷的尺寸應比10微米要大，這樣用它來檢查就能解決所存在的質量問題，而且還有可能解決對精細導線（S/L=30/50微米）的檢查。
AOI自動光學檢測機的弱點
在反射模式將白色的紙放置在光具（底片）之下,介于光具透明和不透明范圍之間，以提高其對比度。經過交替的變換達到或接近所使用的標準的AOI自動光學檢測儀系統。這種方法不是通用的的，更多的傾向是由于微小的劃傷，才會出現假的缺陷報告。
對于有阻抗要求的導線寬度公差控制不會比±5-10微米變化更大是可能的。而AOI的靈敏度不會記錄這樣的線寬變化。檢查光具（即底片）通常應該在清潔的、黃光室內進行，不建議到AOI自動光學檢測儀作業區進行檢查，應此區域清潔度不夠。因此，實際上AOI自動光學檢測儀不是檢查內層或外層的光具膜的機器。
為什么要使用AOI自動光學檢測儀檢測玻璃底版？
AOI自動光學檢測儀實際上也可以檢驗玻璃底版的圖像質量，即玻璃上鍍鉻膜。這些底版通常制作和檢驗是通過轉包公司再送交PWB制造廠的。典型的要求就是底版上的缺陷的尺寸在5微米或更大些。許多使用玻璃底版的用戶也使用檢查玻璃的工具進行檢查，以延長使用的壽命。但使用玻璃底版也很貴。
玻璃底版至少要曝光百次以上，最典型的次數為200-500次，就必須使用AOI自動光學檢測儀對玻璃底版圖像進行質量檢查，還可以通過曝光試驗，如底版的圖像好就可以接著使用，或者進行修整。
AOI自動光學檢測儀在其它方面的應用也比較多，特別是對高密度互連結構（HDI）微通孔和表面的檢查。而且還應用在IC封裝和裝配中的印制板的檢查。AOI自動光學檢測儀很有效地應用諸多方面，為提高印制板的表面質量，發揮了重要的作用。
