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光源是影響影像測量儀視覺圖像質量的重要因素，照明對輸入數據的影響至少占到 30 % 。
在影像測量儀視覺檢測系統中，好的打光方式可以讓我們更準確地捕捉物體特征，提高物體與背景的對比度。今天，源興光學為您分享一下機器視覺光源的照明方式及應用特點。
常見的打光方式有以下幾種：
前面打光法
后面打光法
結構光打光法
混合多方式照明
特殊式
角度照射
*不同的光源公司對角度的定義不同，在選購合適的光源的同時要慎重
應用
特點：在一定工作距離下，光束集中、亮度高、均勻性好、照射面積相對較小。常用于液晶校正、塑膠容器檢查、工件螺孔定位、標簽檢查、管腳檢查、集成電路印字檢查等(30、45、60、75等角度環光*)。
垂直照射
應用
特點：照射面積大、光照均勻性好、適用于較大面積照明。可用于基底和線路板定位、晶片部件檢查等（0角度環光、面光源*）。
*不同的光源公司對角度的定義不同，在選購合適的光源的同時要慎重
低角度照射
應用
特點：對表面凹凸表現力強。適用于晶片或玻璃基片上的傷痕檢查（90度環光*）
*不同的光源公司對角度的定義不同，在選購合適的光源的同時要慎重
背光照射
應用
特點：發光面是一個漫射面，均勻性好。可用于鏡面反射材料，如晶片或玻璃基底上的傷痕檢測；LCD檢測；微小電子元件尺寸、形狀，靶標測試。（背光源、平行背光源）
多角度照射
應用
特點：RGB三種不同顏色不同角度光照，可以實現焊點的三維信息的提取。適用于組裝機板的焊錫部份、球形或半圓形物體、其它奇怪形狀物體、接腳頭（AOI光源）
碗狀光照明
應用
特點：360度底部發光，通過碗狀內壁發射，形成球形均勻光照。用于檢測曲面的金屬表面文字和缺陷。（球積分光源，通常也叫圓頂光）
同軸光照明
特點：
類似于平行光的應用，光源前面帶漫反射板，形成二次光源，光線主要趨于平行。用于半導體、PCB板、以及金屬零件的表面成像檢測，微小元件的外形、尺寸測量。（同軸光源，平行同軸光源）
應用
其他光源及照射方式
護照檢測：同軸光，條形光，環形光，組合使用，以適應各種缺陷
對位裝置：環形光，同軸光，既能實現Mark點定位，又能實現檢測功能
多色組合光源：應輕松應對不同顏色的工件
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